當(dāng)前位置：
-
產(chǎn)品型號
BX-Y1243A -
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 -
更新時間
2024-05-15 -
瀏覽次數(shù)
1200
產(chǎn)品描述
200A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
18501309179
18501309179
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
產(chǎn)品型號
BX-Y1243A廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1200產(chǎn)品描述
200A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
產(chǎn)品型號
BX-Y1243B廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1293產(chǎn)品描述
300A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
產(chǎn)品型號
BX-Y1245廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1276產(chǎn)品描述
200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設(shè)計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準。
產(chǎn)品型號
BX-Y1245A廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1398產(chǎn)品描述
400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設(shè)計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準。
產(chǎn)品型號
BX-Y1245B廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數(shù)
1248產(chǎn)品描述
600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設(shè)計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準。